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EC-SEG: Electronic Component Segmentation for PCB Assurance and Counterfeit Avoidance 본문
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EC-SEG: Electronic Component Segmentation for PCB Assurance and Counterfeit Avoidance
Basha 2026. 1. 29. 15:34728x90
EC-Seg 방법론 집중 분석 표
| 단계 | 세부 단계 | 사용 기법 / 파라미터 | 목적 및 설계 의도 | 핵심 특징·주의점 |
| 1. 이미지 획득 (Image Acquisition) | 고해상도 PCB 촬영 | • DSLR 카메라• 해상도 ≥ 3000×3000 px• 수직(top-down) 촬영 | 미세·밀집 부품을 안정적으로 분리하기 위한 충분한 공간 해상도 확보 |
저해상도 이미지에서는 후속 분할 성능 급감
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| 최적 이미지 선택 | • 다중 촬영 후 BRISQUE 기반 블라인드 화질 평가 | 블러, 흔들림, 초점 손실 제거 |
자동화 파이프라인의 신뢰성 확보
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| 2. 색채성 분석 (Chromaticity Analysis) | RGB 정규화 | • 각 픽셀에서 R,G,B 합으로 나누어 정규화 (Chromaticity) | 조명·밝기 변화에 강인한 색 표현 확보 |
HSV의 H,S 정보와 동등한 효과
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| 보드 vs 부품 분리 가정 | • PCB 보드는 “더 반사적·컬러 있음” | 배경(보드) 제거를 위한 사전 모델링 |
PCB 색상 변화에도 적용 가능
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| 3. 자동 분할 전처리 (Smoothing) | 가우시안 스무딩 | • 커널: 3×3부터 점진 증가• 최대 크기 = 최소 부품 크기의 20% | 부품 표면 텍스처 제거 + 경계 보존 |
유일한 사용자 입력: 최소 부품 픽셀 크기
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| 4. 자동 임계값 분할 (Thresholding) | 지배 색상(dominant color) 추정 | • R,G,B 채널 합으로 보드 색상 결정 | PCB 색상별 자동 파라미터 조정 |
보드 색상 변화에 대한 적응성
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| 색상 기반 임계값 처리 | • 반사·컬러 영역(보드) 제거 | 배경 제거 후 부품 후보 강조 |
구체 임계값은 특허 대상(비공개)
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| 5. 노이즈 제거 (Noise Processing) | 필터링 | • Median filter 3×3 → 점진 증가 | Salt-and-pepper 노이즈 제거 |
가우시안과 동일 임계 기준 사용
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| 수학적 형태학 | • Erosion + Dilation• 커널 = 최소 부품 크기의 50% | 비아·트레이스 제거, 부품 보존 |
과도한 침식 방지 설계
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| 6. 영역 분할 및 라벨링 | Flood-Fill | • DFS 또는 BFS | 연결 성분별 부품 분리 |
모든 부품에 고유 라벨 부여
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| 위치 정보 산출 | • 픽셀 좌표 I(i,j) | 후속 인식·인증 알고리즘 입력 생성 |
AutoBoM·CNN Region Proposal로 활용
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| 7. 출력 | 분할·라벨된 부품 맵 | • 부품별 마스크 + 위치 | 개별 부품 단위 분석 가능 | 회전·스케일 |
방법론적 핵심 요약
- 학습 데이터 불필요: 딥러닝이 아닌 규칙·물리적 특성 기반 접근
- 조명·색상 변화에 강인: Chromaticity 기반 설계
- 최소 사용자 개입: 단 1개 파라미터(최소 부품 크기)
- 확장성: CNN 기반 객체 검출의 Region Proposal 단계로 활용 가능
1. 통계적 유의성 분석
1.1 정량적 성능 지표의 부재
이 연구의 가장 근본적인 한계는 통계적 검정이 가능한 정량 지표가 전혀 보고되지 않았다는 점입니다.
- 논문에서는 다음과 같은 표현만 제시됨:
- “visually 90% or more components seem successfully detected”
- 이는 정성적 관찰(visual inspection)에 기반한 주장으로,
- Precision / Recall
- IoU(Jaccard Index)
- F1-score
- Confidence Interval
- p-value
등의 어떠한 통계량도 제시되지 않음
→ 본 연구의 결과는 통계적으로 유의하다고 주장할 수 있는 최소 조건을 충족하지 못함
효과가 있다는 주장은 가능하나, 유의미하게 우수하다는 주장은 불가능
1.2 귀무가설(H₀) 자체가 정의되지 않음
통계적 유의성을 논하려면 최소한 다음이 필요합니다.
| 귀무가설(H₀) | X |
| 대립가설(H₁) | X |
| 비교 대상(베이스라인) | X |
| 통계 검정 방법 | X |
- 기존 기법 대비 성능 향상 여부
- 랜덤 분할 대비 우월성
- 색상·배치 변화에 대한 강건성 차이
등을 통계적으로 검증할 구조 자체가 설계되지 않음. 알고리즘 제안 논문이지, 성능 검증 논문이 아님.
1.3 샘플 수(n=15)의 통계적 의미
논문에서 사용된 전체 실험 샘플은 다음과 같습니다.
| 항목 | 값 |
| PCB 이미지 수 | 15장 |
| 반복 실험 | 없음 |
| 랜덤 샘플링 | 없음 |
| 교차 검증 | 없음 |
통계 이론 관점에서,
- n=15는 분산 추정조차 불안정
- 신뢰구간(Confidence Interval)을 계산할 경우 폭이 매우 큼
- 정상성 가정, 중심극한정리 적용 불가
통계적 일반화는 불가능 하다.
2. 샘플링(sampling) 설계의 구조적 한계
2.1 대표성(Representativeness)의 부족
논문에서 명시된 샘플 특성:
- 제조사, 모델, 색상이 “다르다”고만 서술
- 구체적 분포 정보 없음:
- 제조사 수
- 부품 밀도 분포
- 부품 타입 비율
- 노후화 정도
이는 표본 프레임(sample frame) 자체가 정의되지 않았음을 의미합니다.
따라서 이 알고리즘이 PCB 전반에 적용가능하다는 주장은 표본 추출 이론 상 뒷받침 되지 않는다.
| 편향 유형 | 근거 |
| Convenience Sampling |
연구자가 접근 가능한 PCB만 사용
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| Image Quality Bias |
BRISQUE로 “좋은 이미지”만 선별
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| Failure Case Under-sampling |
실패 사례는 예시로만 제시
|
- 알고리즘이 잘 작동하는 조건이 샘플링 단계에서 이미 강화됨
- 실제 현장(저화질, 조명 불균일, 오염 PCB)에 대한 성능은 과대평가 가능성 높음
2.3 Ground Truth 부재의 구조적 영향
논문에서 명시적으로 언급됨: “there is no ground truth to compare the segmentation performance”
이로 인해 발생하는 문제:
- 성능 측정 불가 : IoU, Dice 등 계산 불가
- 재현성 부족 : 외부 연구자가 동일 결과 검증 불가
- 비교 연구 불가 : 기존 방법 대비 우수성 주가 불가
→ 유의성 검정 이전에 평가 설꼐 자체가 미완성
이 논문이 성공적인 지점
- 학습 데이터 없이 작동하는 segmentation 파이프라인 제안
- PCB 도메인의 물리·광학적 특성을 명확히 모델링
- CNN Region Proposal로의 활용 가능성 제시
이 논문이 의도적으로 다루지 않은 지점
- 통계적 성능 검증
- 대규모 일반화
- 산업 수준 벤치마킹
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